分析

analysis


我們積極(ji)進行電(dian)鍍液分析和鍍層(ceng)特性(xing)分析,以保證并改善鍍層(ceng)品(pin)質。

在RoHS指令(ling)和REACH法規等環境危害(hai)物質(zhi)的(de)管理(li),為驗證(zheng)工序的(de)特性(xing)數據分(fen)析等方面,我們注(zhu)重通過充實的(de)分(fen)析儀器(qi)及扎實可(ke)靠(kao)的(de)知識(shi)來培養人力資源,并建立起令(ling)客(ke)戶放心(xin)的(de)體系(xi)。

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分析項目 所用儀器
鍍層解析 觀察及成分分析 ?鍍層表面粒子
?附著異物觀察
?樣品截面鍍層組成觀察
掃描電子顯微鏡(SEM)
?附著異物成分分析
?樣品截面鍍層組成分析
能量色散X射線熒光分析儀(EDS)
?附著異物成分分析 傅里葉變換紅外光譜儀(FT-IR)
?擴大影像照片 數字顯微鏡
鍍層厚度測量 ?鍍層厚度測量 X射線熒光分析儀
粗糙度測量 ?表面粗糙度測量
?表面凹凸深度測量及定性分析
激光顯微鏡
粗糙度測量儀
熔點測量 ?熔點測量 熔點測量裝置
硬度測量 ?硬度測量 維氏硬度計
導電性 ?電阻測量 電力接觸模擬器
電阻表
可焊性測量 ?焊接潤濕性測量 焊錫檢查器
?附著力測量 數字測力計
其他 ?截面研磨儀器 截面拋光機
臺式精密研磨機

鍍層可(ke)靠性測試(shi)

環境試驗 ?恒溫恒濕環境試驗 恒溫恒濕箱
?溫度變化環境試驗 溫度循環試驗機
?恒溫恒濕高壓環境試驗 壓力鍋測試儀
?腐蝕試驗 鹽霧試驗機
電鍍液分析 濃度測量 ?各種電鍍液成分濃度測量 ICP發射(電感耦合等離子)光譜儀
紫外可見分光光度計
自動電位滴定儀

應用實例①掃描電子顯微鏡-能量色散X射線分析儀(SEM-EDS)+截面拋光機

案例1:鍍層的可靠性(xing)評價(Cu材(cai)鍍鎳鍍錫后(hou)的熱擴散)

めっき被膜の信頼性評価(Cu材-Niめっき-Snめっきの熱拡散)

Cu材(cai)上(shang)的Ni-Sn鍍層樣品經過長時(shi)間熱處理,用(yong)掃(sao)描(miao)電子(zi)顯(xian)微鏡(SEM)和(he)能量色散(san)X射線分(fen)析儀(EDS)觀(guan)察(cha)(cha)分(fen)析前后(hou)Cu,Ni,Sn的擴散(san)狀態(tai)。 除了用(yong)SEM觀(guan)察(cha)(cha)表面,我們還用(yong)截面拋(pao)光機制備橫(heng)截面樣品,同(tong)樣用(yong)于(yu)觀(guan)察(cha)(cha)研(yan)究擴散(san)狀態(tai)。

掃描電子顯微鏡下的表面及截面


  表面 截面
高溫處理前 加熱試験前 表面 加熱試験前 斷面
高溫處理后 加熱試験後 表面 加熱試験後 表面

能量色散X射線分析儀下的化合物元素分布觀察


  Sn Ni Cu
高溫處理前 加熱試験前 Sn 加熱試験前 Ni 加熱試験前 Cu
高溫處理后 加熱試験後 Sn 加熱試験後 Ni 加熱試験後 Cu

能量色散(san)X射(she)線分析儀下的化合(he)物元(yuan)(yuan)素(su)分布觀察結(jie)果(guo)顯(xian)示,Ni-Sn元(yuan)(yuan)素(su)擴散(san)形成化合(he)物。

案(an)例2 表面附(fu)著物(wu)觀察

接到類似晶(jing)須(xu)物體的調查(cha)要求。圖為表面分析。

表面觀(guan)察

附著物 晶須(供參考)
付著物 ウィスカ(參考)

截(jie)面觀察

SEM下的截面狀態 EDS下的元素分布
Sn Cu
SEM観察 EDSSn EDSCu

觀察橫(heng)截(jie)面(mian)時,可(ke)以確認(ren)錫鍍(du)層顆粒。進一步觀察元素分布(bu)后顯示(shi)核(he)心是(shi)銅,可(ke)發現錫被鍍(du)到(dao)材料(liao)的毛刺上而并非形成晶須。

應用實例②:數字顯微鏡+激光顯微鏡

數字顯微鏡

數字顯(xian)微鏡

數(shu)字(zi)顯(xian)(xian)微鏡可在寬范圍內確認表面狀(zhuang)態并(bing)在視覺上(shang)識別(bie)形狀(zhuang)。激光顯(xian)(xian)微鏡可以測量凹(ao)凸不規(gui)則形狀(zhuang)。 我們使用這兩者觀(guan)察測量了(le)樣(yang)品表面上(shang)的凹(ao)凸形狀(zhuang)。

 我們可以(yi)使用(yong)數字顯微(wei)鏡掌握表面3D形(xing)狀。

放大照片 3D合成影像
キズ拡大寫真 3D合成像 3D合成像
激光顯微鏡

激(ji)光(guang)顯(xian)微鏡

下(xia)面用激(ji)光顯微鏡觀察并測量表面狀(zhuang)態。

表(biao)面觀察及測量(liang)圖像

亮度 高低差色 截面輪廓
輝度 高低カラー 表面斷面

  從放大(da)照(zhao)片和(he)截(jie)面輪廓可(ke)以確認(ren),凹凸部邊緣隆(long)起,呈碗(wan)型,深(shen)度約(yue)為20μm。

應用實例③:測量各種電鍍液元素濃度

案例1:使用自動電位滴(di)定(ding)儀對氯化(hua)鎳(nie)(NiCl 2?6H 2 O)進行濃度分(fen)析。

自動電位滴定儀

自動電位滴定(ding)儀

為了改善電鍍液導電性并提高陽極溶解,可以添加氯化鎳到鎳電鍍液中。
但(dan)如果它超出控制值,鍍(du)(du)層(ceng)附著(zhu)及光滑(hua)度則降(jiang)低,鍍(du)(du)層(ceng)硬度上升,內(nei)部應力增加(jia),導致無法滿足鍍(du)(du)層(ceng)特性(xing)要求。 我們通過(guo)定(ding)期分析來監測(ce)濃度,保(bao)持恒定(ding)值來保(bao)證鍍(du)(du)層(ceng)特性(xing)。

案(an)例2:鍍(du)層(ceng)和(he)陽極雜質分析(xi)

ICP發射(電感耦合等離子)光譜儀

ICP發射(電(dian)感(gan)耦合(he)等(deng)離子)光譜儀

用于鍍錫的(de)錫陽極是從(cong)錫礦(kuang)石中(zhong)精煉,因此(ci)無法完(wan)全去(qu)除鉛。總會含有一定鉛雜質(zhi),因此(ci)需(xu)要對(dui)鉛進(jin)行閾值管理。 錦華隆使用純度為99.99%的(de)錫陽極,并定期測量監測閾值。

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